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數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)

瀏覽量:1663

更新時間:2023-07-02

簡要描述:

HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。

品牌其他品牌儀器類型便攜式
價格區(qū)間面議儀器原理圖像分析法
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,農(nóng)業(yè)

途:HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息,能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。

HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)原理:使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數(shù)碼相機(jī)從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機(jī)的高清晰度影像載入軟件,進(jìn)行分析處理。


<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>HemiView<strong><strong>數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>     <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>HemiView<strong><strong>數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

技術(shù)規(guī)格:

圖像文件類型BMP、JPEG、TIF、Photo CD
圖像分辨率小512×512,大4368×2912(和數(shù)碼相機(jī)有關(guān))
鏡頭變形能多種相關(guān)天頂角和光線距離
直射光模型簡單的空氣傳遞,由用戶設(shè)置
散射光模型統(tǒng)一或標(biāo)準(zhǔn)陰天
數(shù)據(jù)輸出Excel兼容表格格式
總像素1510萬像素
大支持圖片分辨率4368×2912像素
魚眼透鏡視角180°
存儲容量2GB,可擴(kuò)展
可伸縮單臂支架高度0.69~1.66米
三腳架高度1.73米
操作溫度+5~+55℃

輸出參數(shù):

·天空幾何:質(zhì)心,立體角和像素計算用于每個天空扇區(qū);

·間隙粒級:比例的可見天空扇區(qū);

·葉面積指數(shù):天空扇區(qū)或全部數(shù)值;

·太陽輻射:直射和散射,冠層上方和下方,能量或質(zhì)量單位;

·位置因數(shù):直接,間接(散射),全部;

·時間序列和Sunflecks:可查看日期的日盤(半陰影作用)和太陽輻射,用戶自定義的采樣間隔時間或sunfleck順序

·可選余弦修正:可用任何方位的截取表面;

·全部數(shù)值:大部分輸出能將天空扇區(qū)表格化,集合到單個全天空或年數(shù)值中。



<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>HemiView<strong><strong>數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>  <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>HemiView<strong><strong>數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>


特點:

·交互式圖示定位工具:記錄的圖像半球縱坐標(biāo)系統(tǒng)。補償磁場偏差;

·支持圖像分類:強度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類;

·圖像可多重和拆分查看:分類和色彩/灰色等比率查看,或?qū)⒄鶊D像拆分開瀏覽;

·圖像底片:圖像可轉(zhuǎn)換為底片模式進(jìn)行查看和分析;

·可給不同的天空區(qū)域定義號碼:天頂角和方位角定義范圍;

·單個樹的葉面積:直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI;

·分析局部圖像:可以將圖像中不需要參與分析的部分排除;

·地點,鏡頭和太陽模型的參數(shù):用戶可設(shè)定地點,鏡頭和太陽模式應(yīng)用到任何一個圖像中,方便從列表中選擇;

·定義鏡頭的特點:鏡頭方程是當(dāng)用戶使用了當(dāng)前鏡頭和老款類型提供的ΔT;

·輸出:分析結(jié)果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式;

·自定義輸出參數(shù):用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。


<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>HemiView<strong><strong>數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

時間序列計算光照示例圖

產(chǎn)地:英國






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